光學尺

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光學尺在設計上將整體系統縮減至最小尺寸,同時整合先進動態訊號與數位信號處理功能,讀頭可直接輸出數位訊號,免除額外連接轉換頭或分離式介面的繁瑣,使之在循環誤差、抖動和精度等方面均提供同類型產品中最優越的性能。

提供兩種型號選擇:標準讀頭的超低電子細分誤差(SDE)小於±30nm,提供5μm至20nm解析度,最高速度達12m/s。用戶也可以選擇plus,以其小於±10nm的超低電子細分誤差(SDE)、低於1.6nm的RMS抖動,2.5nm-100nm高解析度,滿足高端嚴謹的運動控制應用需求。低細分誤差意味著更低的速度漣波(Velocity Ripple),對要求平穩速度控制,如掃描量測系統等應用,尤其重要。

系列光學尺與TONiC系列一樣提供線性和及環型(角度)光學尺選擇,讓現有客戶可輕鬆轉換使用,且可配合多種光學尺包括金屬鋼帶尺、殷鋼尺以及環型尺(包括超高精度REXM)等使用。

進階診斷工具(ADT)內含用戶軟體有效控制,並且監控的設定和校正程序,進一步簡化的安裝和校準。ADT設定工具具備遠端、進階校準等功能,是工廠生產線安裝的理想選擇。

資料來源:百度百科